西安瑞禧生物提供各種石墨烯、鈣鈦礦、量子點(diǎn)、納米顆粒、半導(dǎo)體聚合物、超分子、過渡金屬配合物、化學(xué)試劑、等系列產(chǎn)品,炔基修飾硅納米顆粒可定制。
鋰離子電池的合金型負(fù)極,如硅,具有比傳統(tǒng)負(fù)極(即石墨)更高的電容量,而成一種潛在的可大幅提升鋰離子電池能量密度的電極材料。但這些材料自身的不穩(wěn)定性所致的極為有限的電池壽命阻礙其實際應(yīng)用。近年來研究表明,這種不穩(wěn)定性是由于電極和電解液之間形成的電解質(zhì)界面膜(SEI)的不穩(wěn)定性造成的。
以硅為例,硅在放電過程中與鋰離子進(jìn)行合金化,自身體積會可膨脹約4倍,此時在界面間的主要由無機(jī)鹽構(gòu)成的SEI膜容易破裂,并造成電極材料表面的再次暴露。另外,硅材料在充放電循環(huán)中不斷發(fā)生的膨脹-收縮形變會導(dǎo)致硅本身的結(jié)構(gòu)崩壞,造成電極材料的損失。
在硅納米顆粒表面用炔基修飾,然后使用含疊氮基的功能性有機(jī)物,利用Cu(I)催化的炔基-疊氮基之間的點(diǎn)擊化學(xué)反應(yīng),將這些有機(jī)物通過共價鍵連接到硅顆粒表面。利用這種模塊化的點(diǎn)擊化學(xué)方法, 一系列功能化合物被高效地修飾在Si材料表面,并進(jìn)行了性能的篩選優(yōu)化。在這些有機(jī)物中,醚類寡聚物與SEI膜有強(qiáng)親和力,可保證SEI與硅顆粒的緊密連接。而其中的環(huán)狀碳酸亞乙烯酯部分可在放電過程中參與SEI形成,使得這種SEI膜含有大量有機(jī)物。這種化學(xué)強(qiáng)化后的SEI膜與硅附著良好,自身又具有較高的韌性,因而可保持硅電極的完整性又不易剝落損壞,極大地提高了硅負(fù)極的循環(huán)穩(wěn)定性以及首圈庫侖效率。此外,該法對其他鋰合金型負(fù)極(如鍺)同樣有效,顯示出該法的普適性。
圖1. 硅納米顆粒材料表面 SEI形成過程
(a)普通SEI的形成過程。SEI由電解液的分解形成,成分多為無機(jī)鋰鹽。在多次充放電循環(huán)過程中SEI因為不穩(wěn)定會大量在界面積累,同時硅顆粒逐漸損耗減少。
(b)化學(xué)強(qiáng)化SEI的形成過程。循環(huán)過程中,預(yù)先修飾的有機(jī)物組分和電解液分解共同形成了SEI 。這層SEI具有良好的韌度且依靠點(diǎn)擊化學(xué)形成的共價鍵緊密貼合在硅表面。在多次充放電循環(huán)過程中SEI厚度穩(wěn)定,硅顆粒損耗較小。
圖2. SEI結(jié)構(gòu)篩選和優(yōu)化
(a)利用點(diǎn)擊化學(xué)方法將四種不同有機(jī)物通過點(diǎn)擊化學(xué)反應(yīng)修飾到硅顆粒表面;
(b)各種修飾后的硅電極的充放電循環(huán)壽命;實驗結(jié)果表明同時使用有機(jī)物2和4的效果最佳。
(c)不同2,4有機(jī)物含量對修飾后硅電極充放電循環(huán)壽命影響。最佳質(zhì)量比為Si:2有機(jī)物:4有機(jī)物修飾成分=100:1:1.5。[測試參數(shù):硅載量~1 mg。 電解液:1 M 六氟磷酸鋰(LiPF6)的碳酸乙烯酯(EC)/碳酸甲乙酯(EMC)]
圖3. 化學(xué)強(qiáng)化SEI(CR-SEI)附著的硅負(fù)極電化學(xué)性能表征
僅由電解液(1 M LiPF6 in EC/EMC)形成的SEI。
FEC-SEI:由含有氟代碳酸乙烯酯(FEC)添加劑的電解液形成的SEI。
(a)具有不同SEI的硅材料的充放電電壓曲線;
(b)具有不同SEI硅電極池循環(huán)壽命和庫倫效率;
(c)具有不同SEI的硅電極在不同循環(huán)次數(shù)后測得的電化學(xué)阻抗譜圖;
(d)CR-SEI修飾后的硅負(fù)極|鎳鈷錳正極全電池循環(huán)穩(wěn)定性。
實驗結(jié)果表明,相較于普通SEI和FEC-SEI的硅電極, 具有CR-SEI的硅電極自身及其組裝的全電池均表現(xiàn)出了顯著提升的庫倫效率和循環(huán)穩(wěn)定性能。
圖4. CR-SEI的化學(xué)成分表征
(a)光電子能譜(XPS)圖;
(b)紅外譜圖;
(c,d)SEI的元素組成表征;CR-SEI含有大量有機(jī)聚合物,其C和O元素在 SEI中的比例非常高,且循環(huán)過程中Li元素和F元素(來自電解質(zhì)分解)含量僅緩慢增加。然而普通SEI則主要由無機(jī)鹽組成,C和O元素含量較低,Li元素和F元素隨著循環(huán)次數(shù)的增加而顯著增大,表明電解質(zhì)不斷分解形成大量SEI。
圖5. 具有CR-SEI的硅電極形貌表征
(a-e)CR-SEI的硅負(fù)極的透射電鏡(TEM) 圖及元素分布;
(f-j)含普通SEI的硅電極在循環(huán)0、1、5、50、100圈后(由左至右)的形貌;
(k-o)含有CR-SEI的硅電極在循環(huán)0、1、5、50、100圈后(由左至右)的形貌。普通 SEI 穩(wěn)定性差,僅在循環(huán)5圈后便大量在硅粒子表面堆積,且硅顆粒變小。而CR-SEI厚度幾乎未有增加,硅顆粒雖有脹大,但未觀察到明顯的結(jié)構(gòu)破損。
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